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近日，国外游戏圈知名作者“Damien Mcferran”在Twitter上发表内容，称其个人NS的头部出现了轻微的机身开裂现象。
Mcferran表示，自己对于NS的使用和保养谈不上“粗手粗脚”，因此他无法得知裂缝出现的原因。他在Twitter中质疑称，这是否会是出于本身的硬件设计制作问题（Is this a weak point of the design？）。
据悉，有类似反映的并不只有Mcferran一个，轻微的裂缝位置主要集中出现在机身的通风口和卡槽位置。
有国外舆论猜测称，NS可能存在电池使用时的机身发热问题，热量引发机身外壳膨胀，进而导致轻微的裂缝。
目前，人们尚无法确认此类开裂曝料是否确因机身本身设计问题，任天堂尚未公开做出任何回应。
本文来源：爱玩网
作者：四AC十字围
责任编辑：
汤哲永_NG4608
